Vermessung Von Kristallstrukturen Mit Methoden Der Bildverarbeitung Und Statistik - Olaf Schmidt - Bücher - GRIN Verlag - 9783867461948 - 18. Januar 2013
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Vermessung Von Kristallstrukturen Mit Methoden Der Bildverarbeitung Und Statistik German edition

Olaf Schmidt

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Vermessung Von Kristallstrukturen Mit Methoden Der Bildverarbeitung Und Statistik German edition

Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.

Medien Bücher     Taschenbuch   (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken)
Erscheinungsdatum 18. Januar 2013
ISBN13 9783867461948
Verlag GRIN Verlag
Seitenanzahl 96
Maße 146 × 6 × 207 mm   ·   136 g
Sprache Deutsch  

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