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Vermessung Von Kristallstrukturen Mit Methoden Der Bildverarbeitung Und Statistik German edition
Olaf Schmidt
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Vermessung Von Kristallstrukturen Mit Methoden Der Bildverarbeitung Und Statistik German edition
Olaf Schmidt
Diplomarbeit aus dem Jahr 1999 im Fachbereich Informatik - Technische Informatik, Note: 1, Rheinische Friedrich-Wilhelms-Universität Bonn, Sprache: Deutsch, Abstract: Methoden der Bildverarbeitung werden in der Materialforschung benutzt, um Verzerrungen atomarer Größenordnung vorwiegend in kristallinen Halbleiterheterostrukturen lokal quantitativ zu erfassen. Damit lassen sich andere Größen wie lokale Gitterkonstanten und lokale Konzentrationen errechnen und Rückschlüsse auf Wachstumseigenschaften ziehen. Diese Informationen werden benötigt, um bestimmte Eigenschaften der Heterostrukturen zu verbessern, die die Grundlage elektronischer und optoelektronischer Bauelemente wie hochintegrierter Mikrochips, Halbleiterlaser und Leuchtdioden sind.
Medien | Bücher Taschenbuch (Buch mit Softcover und geklebtem Rücken) |
Erscheinungsdatum | 18. Januar 2013 |
ISBN13 | 9783867461948 |
Verlag | GRIN Verlag |
Seitenanzahl | 96 |
Maße | 146 × 6 × 207 mm · 136 g |
Sprache | Deutsch |
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