Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials - M Lanza - Bücher - Wiley-VCH Verlag GmbH - 9783527340910 - 11. Oktober 2017
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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

M Lanza

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Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials

The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.

400 pages

Medien Bücher     Gebundenes Buch   (Buch mit hartem Rücken und steifem Einband)
Erscheinungsdatum 11. Oktober 2017
ISBN13 9783527340910
Verlag Wiley-VCH Verlag GmbH
Seitenanzahl 384
Maße 251 × 176 × 25 mm   ·   978 g
Sprache Englisch  
Redakteur Lanza, Mario

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